Trang chủ Diễn đàn Thiết bị phân tích nhanh thành phần hóa trong công nghệ sản xuất Xi măng

Thiết bị phân tích nhanh thành phần hóa trong công nghệ sản xuất Xi măng

Phân tích khoảng rộng đá vôi, đất sét, quặng sắt, hỗn hợp nguyên liệu (Bột liệu sau nghiền), clanhke và xi măng là yếu tố quan trọng để điều khiển quy trình sản xuất xi măng. Phân tích nhanh và chính xác hàm lượng ôxít của 4 nguyên tố Al, Si, Ca và Fe trong các đối tượng trên là một trong những yêu cầu quan trọng nhất để kiểm soát chất lượng sản phẩm. Ngoài ra tốc độ phân tích (thời gian đo mẫu) nhanh - 200s cũng góp phần tăng cường kiểm soát chất lượng trong quá trình điều khiển công nghệ. Máy được lắp ống phát tia X truyền qua anode Rh hoạt động ở công suất theo chế độ được lựa chọn và nguồn đồng vị phóng xạ Pu-238; đầu thu là loại bán dẫn Silic loại SDD tự làm lạnh theo hiệu ứng Peltier. Chân không khi máy phân tích mẫu cần đạt 10-2mmHg. Thời gian đo thông thường 200s. Lựa chọn chế độ đo mẫu theo loại đối tượng đo. Có thể đọc kết quả từ file số liệu đã lưu trong máy ở bất kỳ thời gian nào.

 

ABSTRACT
This paper introduces the research and manufactur the fast and high accuracy analysis equipment operating under principle of X-ray fluorescence for analysis 4 oxides components of CaO, Fe2O3, SiO2 and Al2O3 with the measured objects: limestone, clay, additive adjustment iron, after grinding raw material, clinker and cement.
Wide range analysis of limestone and raw mix is the most important factor for process control in cement manufacturing. Otherwise, short measurement time, up to 200s - also contributes to enhance the quality control in technological processes. The equipment uses X-ray tube with Rh anode and a 238Pu radiation source. Detector used in the equipment is SDD Silicon Drift detector with a self-cooling system uses Peltier cell.
The manufactured equipment can be attached by a vacuum pump system and a hydraulic presser to create sample tablets. Vacuum level during measurement time must be 102 mmHg or lower.
Selection modes are available for measuring and analyzing of 6 measurement objects.
Result data can be read from files stored in the computer at any time.
Equipment has been tested with the tested results are reliable and accurate at Kien Khe Cement Corporation Hanam province.
Analysis function of the manufactured equipment can be broadened for other oxides in measured samples such as Mg, S, P and some other elements, and can be applied to elemental analysis in other fields such as mining, metallurgy and so on.

 I. MỞ ĐẦU
Các thiết bị phân tích nguyên tố, trong đó có 4 nguyên tố Al, Si, Ca và Fe được sử dụng trong nhiều ngành công nghiệp như xi măng, hoá dầu, phân bón, công nghiệp thực phẩm, luyện kim và môi trường…Có thể nêu ra một số kỹ thuật hạt nhân tiêu biểu như phân tích kích hoạt nơtron dụng cụ (INAA), phân tích kích hoạt nơtron hoá bức xạ (RNAA), phân tích gamma tức thời (PGAA), phương pháp huỳnh quang tia X phân tách theo bước sóng (WDXRF), phương pháp huỳnh quang tia X phân tách theo năng lượng (EDXRF)…Phương pháp EDXRF là một trong những phương pháp phổ biến, có những ưu điểm cơ bản của một phương pháp phân tích hạt nhân hiện đại đáp ứng được các yêu cầu của những nhà máy sản xuất xi măng (SXXM) công suất vừa và nhỏ như: phân tích nhanh, chính xác, độ tin cậy khá cao, vận hành thiết bị tương đối đơn giản, giá thành khá rẻ. [2, 3, 5].
Các thiết bị do nước ngoài, chủ yếu là các nước Tư bản phát triển, chế tạo khá hoàn chỉnh, sử dụng các thuật toán và kỹ thuật cao kết hợp với các linh kiện đắt tiền. Việc phân tích hàm lượng các nguyên tố nhẹ rất khó khăn, do vậy hầu hết các hãng đều có bí quyết riêng và thiết bị có giá rất cao, khoảng vài chục đến vài trăm ngàn đô la Mỹ, do đó các thiết bị đắt tiền chỉ được sử dụng trong các nhà máy SXXM quy mô lớn. Trung Quốc cũng đã nghiên cứu chế tạo được thiết bị phân tích nhanh 4 thành phần ôxít CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 trong SXXM với giá thành thấp, khoảng trên dưới 30 ngàn đô la Mỹ. Thiết bị này đã xuất hiện ở một vài nhà máy xi măng nhưng hoạt động chưa hiệu quả do thủ tục làm đường chuẩn và sử dụng phức tạp.
Để đáp ứng nhu cầu của ngành công nghiệp xi măng và thực hiện chủ trương nội địa hoá các thiết bị trong nước, “Đề án Phát triển ứng dụng bức xạ và đồng vị phóng xạ trong công nghiệp đến năm 2020” đã được Chính phủ giao cho Bộ Công Thương chủ trì trong việc nghiên cứu triển khai các vấn đề liên quan đến kỹ thuật hạt nhân vào các ngành công nghiệp của Việt Nam. Bộ Công thương thông qua Vụ KHCN đã giao cho Viện Khoa học và Kỹ thuật hạt nhân (KHKTHN) thực hiện đề tài “Xây dựng các quy trình phân tích và chế tạo thiết bị phân tích nhanh thành phần hoá để điều khiển các quá trình công nghệ trong sản xuất xi măng” theo hợp đồng số: 05/HĐ-ĐT 2010/ĐVPX, ngày 13 tháng 4 năm 2011 [1].
Bài báo giới thiệu việc chế tạo thiết bị phân tích nhanh thành phần hóa với việc xác định chính xác hàm lượng của 4 ô xít chính là CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 trong các đối tượng tham gia quá trình công nghệ sản xuất xi măng gồm đá vôi, đất sét, quặng sắt, cát, bột liệu sau nghiền, clanhke và xi măng. Đây là thiết bị rất quan trọng tham gia vào quá trình điều khiển công nghệ trong SXXM.
II. NGHIÊN CỨU CHẾ TẠO THIẾT BỊ
* Nguyên lý hoạt động của thiết bị: Thiết bị phân tích nhanh hàm lượng 4 ôxít CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 theo nguyên lý huỳnh quang tia X đáp ứng được yêu cầu của việc kiểm soát chất lượng. Chế tạo hệ phổ kế dựa trên việc sử dụng nguồn phát bức xạ là nguồn đồng vị 238Pu kết hợp sử dụng ống phát tia X và đầu thu bán dẫn Si loại XR100SDD [8, 10, 11]. Cấu hình buồng đo mẫu (hình 1) tương thích với nguồn phát bức xạ, vị trí đặt mẫu đo và đầu thu tín hiệu; các bo mạch điện tử (tiền khuếch đại, khuếch đại, biến đổi ADC, nguồn nuôi cao áp và thấp áp được chế tạo phù hợp với đầu thu và xử lý tín hiệu cho mục đích phân tích phổ; thiết kế và viết phần mềm cho các chức năng: thu phổ, biểu diễn phổ, xử lý phổ, ổn định phổ, xử lý số liệu, xây dựng đường chuẩn khá thân thiện với người sử dụng. Thiết bị chế tạo trên hình 2.

Hình 1 Thiết kế cơ khí buồng đo mẫu

Hình 2 Máy phân tích 4 nguyên tố, sản phẩm của đề tài đang hoạt động

* Chuẩn thiết bị: Sử dụng bộ mẫu chuẩn có các thông số trong bảng 1 để xác định độ phân giải của đầu thu với hai đỉnh Al và Si (hình 3). Hình 3 cho thấy độ phân giải rất tốt của thiết bị, các đỉnh năng lượng của Al và Si được phân biệt rất rõ khi ống phát hoạt động ở chế độ 4,5KV và

0,35mA. Đây chính là yếu tố đảm bảo cho sự phân tích chính xác hàm lượng ôxít của hai nguyên tố này.

Bảng 1. Thông số các mẫu chuẩn xác định độ nhạy của thiết bị

Hình 3 Độ phân giải của đầu thu với hai đỉnh nhôm và silic

Hình 4 Đồ thị đường chuẩn năng lượng của máy phân tích

Với việc sử dụng hai nguồn phát tia X: ống phát tia X (cao áp 4,5KV và dòng 0,35mA) để phát hiện Al, Si và Ca và nguồn Pu-238 để phát hiện Ca và Fe đã cho phép nhận dạng chính xác vị trí, xác định chính xác biên độ. Chất lượng tốt của các mạch điện tử được đánh giá bằng độ ổn định và độ tuyến tính giữa kênh và năng lượng. Hình 4 là đồ thị chuẩn năng lượng của thiết bị. Hình 5 là phổ thu khi phân tích mẫu xác định hàm lượng ôxít. Hình 6 là đồ thị đường chuẩn hàm lượng của 4 ôxít trong đối tượng đo đá vôi (mỗi đối tượng đo có một đường chuẩn như vậy).

Hình 5 Phổ thu khi phân tích mẫu bột liệu

* Biện pháp loại trừ ảnh hưởng hiệu ứng nhiễu xạ tia X: Trong phân tích huỳnh quang tia X, yếu tố khó nhất phải làm chủ được để hệ đo đạt được chất lượng cao là khắc phục được ảnh hưởng của hiệu ứng nhiễu xạ tia X, đây là hiện tượng xảy ra đồng thời khi sử dụng năng lượng tia X (nguồn kích) để chiếu mẫu. Khi bị chiếu, nguyên tố có năng lượng cao bị kich thích sẽ phát năng lượng tia X đặc trưng, năng lượng này sẽ kích thích luôn nguyên tố có năng lượng thấp hơn, tức là nguyên tố thấp sẽ bị kích thích bởi nguồn kích và các nguyên tố có năng lượng cao hơn. Hai biện pháp để tăng cường chất lượng cho hệ đo:

Hình 6 Bộ đường chuẩn tính hàm lượng 4 ôxít trong đá vôi

- Sử dụng bộ đường chuẩn riêng biệt cho một đối tượng đo: Mỗi đối tượng đo đều có những dải khá hẹp (bảng 2) về hàm lượng của 4 ôxít trong thành phần mẫu. Sử dụng riêng từng bộ đường chuẩn hàm lượng của 4 ôxít trong mẫu đo, có thể gần đúng sự ảnh hưởng giống nhau bởi nhiễu xạ tia X của từng nguyên tố trong dải hẹp đó.
- Mỗi đối tượng đo, sử dụng chung một mẫu chuẩn cứng. Mẫu chuẩn cứng này có thành phần nằm trong dải thành phần của mỗi ôxít trong đối tượng đo. Việc phát xạ gây ra sự kích thích tăng cường đối với mẫu đo cũng có thể coi như đối với mẫu chuẩn cứng, nên nếu đem so sánh thì có thể loại trừ được ảnh hưởng của hiệu ứng tăng cường này. Do đó, khi đo phân tích mẫu, kết quả phải được so sánh “tức thời” với kết quả do phân tích mẫu chuẩn cứng.
* Quy trình phân tích mẫu: Phép phân tích phổ theo các bước chính như sau [6, 9]:
- Thu số liệu từ ADC và vẽ phổ.
- Xác định các điểm neo (Anchor points) là các điểm cực tiểu của phổ.
- Nội suy Spline theo đa thức bậc cao (hiện đang sử dụng đa thức bậc 3) và xác định đường phông.
- Trừ phông: Lấy đường phổ thu được trừ đi đường phông.
- Loại các đỉnh thuộc các nguyên tố không có trong thực tế và không nằm trong mục đích phân tích ở bài toán này.
- Sau khi thu được các đỉnh tia X đặc trưng cho 4 nguyên tố, tô màu, sau đó tính ra tốc độ đếm của chúng và tính ra hàm lượng dựa vào đường chuẩn.
Thuật toán làm khớp được tiến hành bằng cách làm khớp số đếm ở đỉnh tia X đặc trưng của Al, Si, Ca và Fe theo phân bố Gauss:

(1)
trong đó: SĐ(k) là số đếm tại kênh k; A là độ cao của phân bố; k là số kênh; b là kênh trung tâm của phân bố; σ là độ rộng của phân bố. Sau khi làm khớp theo phân bố Gauss ta sẽ thu được diện tích S (tức là tổng số đếm) của đỉnh tia X đặc trưng như sau:
S = A.σ.         (2)
Diện tích S này sẽ được đưa vào công thức (4) để tính ra hàm lượng của 4 ôxit Al2O3, SiO2, CaO và Fe2O3. Quá trình làm khớp sẽ cho các chỉ số Ai, bi và σi (i =1,2,3,4), từ đó tính được diện tích đỉnh tia X đặc trưng của S1(Al), S2(Si), S3(Ca) và S4(Fe)  như sau:
Si = Ai.σi.        (3)
Chương trình sẽ lưu lại phổ dưới dạng một file số liệu, sau đó sẽ phân tích file số liệu vừa thu để đưa ra tốc độ đếm tại các đỉnh tia X đặc trưng của Al, Si, Ca và Fe tương ứng (ký hiệu các tốc độ đếm này là Si, i=1 đến 4). Tiếp theo, đọc file các số liệu tương ứng các nguyên tố về tốc độ đếm của mẫu cứng (Sci) và cáchệ số Ci và di của đường chuẩn, tính toán ra hàm lượng % của các ôxit theo công thức (4) và đưa giá trị các hàm lượng này ra màn hình.


 

* Xây dựng Quy trình: Các quy trình chế tạo mẫu chuẩn hàm lượng cho thiết bị, bao gồm: Gia công tạo mẫu chuẩn cho bột liệu, cho các đối tượng thuộc công đoạn phối liệu đầu vào là đá vôi, đất sét, nguyên liệu điều chỉnh sắt, nguyên liệu điều chỉnh silic và clanhke; Xây dựng quy trình làm đường chuẩn, quy trình phân tích; Xây dựng quy trình gia công, nghiền mẫu đo, ép viên và các chỉ tiêu khi tạo viên mẫu đo; Hiệu chuẩn phép đo và đánh giá sai số kết quả đo. Hiệu chỉnh phần cứng của thiết bị: Cơ khí, điện tử,...; Hiệu chuẩn các đường chuẩn của đối tượng đo: Đá vôi, đất sét, bột liệu,... đều đã được giới thiệu trong báo cáo tổng hợp kết quả đề tài [1]
III. ĐÁNH GIÁ THIẾT BỊ

Hình 7. Đồ thị độ nhạy của đường hồi quy tính theo công thức (6)

* Đánh giá giới hạn phát hiện của máy [12]
Công thức lý thuyết tổng quát tính giới hạn phát hiện (độ nhạy):
  (5)
Trong đó:
- b là hệ số b của đường hồi quy tuyến tính Y = a.X + b                (6)
-  là độ lệch chuẩn của đường hồi quy trên, được tính theo công thức

            (7)
Với Yi và YiHQlà giá trị thực nghiệm và hồi quy, tương ứng; n là số điểm hồi quy. Hình 7 là đồ thị độ nhạy của đường hồi quy tính theo công thức (6).
Xét đường chuẩn trong bột liệu: đường chuẩn CaO có dải hàm lượng từ 37,5 – 42,5%; đường chuẩn Fe2O3 có dải hàm lượng từ 2,3– 2,9%; đường chuẩn Al2O3 có dải hàm lượng từ 3,2 – 4,8% và đường chuẩn SiO2 có dải hàm lượng từ 9,0 – 13,5%. Tương tự, xét dải hàm lượng của các ôxít trong đường chuẩn của các nguyên liệu đá vôi, trong đất sét, trong quặng sắt, trong clanhke và trong xi măng, từ dải hàm lượng các đường chuẩn của các đối tượng trên, lập bảng 2.
Để đánh giá được khả năng của thiết bị trong việc nhận dạng nguyên tố và xác định hàm lượng ôxít của nguyên tố đó trong các đối tượng đo, cần xác định giới hạn phát hiện của đường chuẩn nào mà có dải hàm lượng thấp nhất trong các dải hàm lượng cùng loại của các đường chuẩn. Từ bảng 2, cần xác định giới hạn phát hiện của các đường chuẩn: CaO trong đất sét; Fe2O3, Al2O3 và SiO2 trong đá vôi. Các thông số về đường chuẩn và độ nhạy trong bảng 3.

Bảng 2. Dải hàm lượng các ôxít làm đường chuẩn tại Công ty Kiện Khê
Bảng 3. Các thông số về đường chuẩn xác định hàm lượng ôxít và độ nhạy


Từ số liệu trên bảng 2 và bảng 3: Hàm lượng CaO có trong các đối tượng đo, thấp nhất là trong thành phần đất sét; hàm lượng của Al2O3, SiO2 và Fe2O3 thấp nhất là có trong đá vôi. Với đường chuẩn xác định hàm lượng CaO trong đất sét, khả năng phát hiện nguyên tố Ca và cho kết quả tính hàm lượng tin cậy khi có trên 0,09% CaO trong đất sét; Tương tự, khả năng phát hiện các nguyên tố Al, Si và Fe  có trong đá vôi và cho kết quả tin cậy khi tính hàm lượng ôxít của chúng theo đường chuẩn đã xây dựng thì độ nhạy tối thiểu của 3 ôxít Al2O3, SiO2 và Fe2O3 lần lượt là 0,25%, 0,28% và 0,05%.
Đo thực nghiệm tại NMXM Kiện Khê [1]. Bản nhận xét của Giám đốc Công ty CP Xi măng Kiện Khê về kết quả đo thực nghiệm tại nhà máy xi măng Kiện Khê đã khẳng định sự thành công của đề tài. Kết quả cho thấy thiết bị đã đạt được các mục tiêu đề ra.
Đo an toàn bức xạ khi máy làm việc tại các điểm xung quanh máy, phòng làm việc. Kết quả đo liều đều thấp như phông môi trường cho nên có thể coi không gây ra mất an toàn bức xạ.
Nghiên cứu chế tạo thiết bị phân tích được 4 nguyên tố trong đó có 2 nguyên tố nhẹ là nhôm và silic là vấn đề rất khó, từng được nghiên cứu ở Việt Nam nhưng chưa thành công trong việc có được sản phẩm riêng dùng của các nhà máy SXXM. Có rất nhiều nhà máy SXXM công suất  vừa và nhỏ đang cần loại thiết bị như thế này. Do đó, đề tài này thành công, không chỉ có ý nghĩa khoa học và còn rất có ý nghĩa trong thực tế.
IV. KẾT LUẬN
Đề tài “Xây dựng các quy trình phân tích và chế tạo thiết bị phân tích nhanh thành phần hóa để điều khiển các quá trình  công nghệ trong sản xuất xi măng” là một đề tài có ý nghĩa khoa học, thực tiễn nhưng khó và phức tạp. Đề tài đã hoàn thành và thu được các kết quả như sau:
 1. Đạt được các mục tiêu đề ra:
* Chế tạo được thiết bị phân tích nhanh nhiều nguyên tố, trong đó có 4 nguyên tố chính là Ca, Fe, Si và Al trong các đối tượng đo như đá vôi; đất sét; nguyên liệu điều chỉnh sắt; nguyên liệu điều chỉnh silic; bột liệu sau nghiền; clanhke; xi măng phục vụ công nghệ SXXM;
* Xây dựng được các quy trình phân tích ứng với từng loại đối tượng trên.
2. Thiết bị chế tạo có một số đặc trưng kỹ thuật chính sau đây:
Phân tích khoảng rộng đá vôi, phân tích nguyên liệu đất sét, quặng sắt, hỗn hợp nguyên liệu (Bột liệu sau nghiền), phân tích clanhke và xi măng là yếu tố quan trọng nhất để điều khiển quy trình sản xuất xi măng. Ngoài ra tốc độ phân tích nhanh, thời gian đo mẫu 200s – 400s cũng góp phần tăng cường kiểm soát chất lượng trong quá trình công nghệ.
- Máy được lắp ống phát tia X truyền qua anode Rh kết hợp với nguồn đồng vị phóng xạ Pu-238; đầu thu là loại bán dẫn được chế tạo theo công nghệ khuếch tán silic (Silicon Drift Dectector – SDD) và tự làm lạnh theo hiệu ứng Peltier.
- Khi thu phổ phân tích mẫu, áp suất chân không là 10-2mmHg.
- Thời gian đo thông thường 200s.
- Lựa chọn chế độ đo mẫu hoặc đọc file số liệu theo loại đối tượng đo.
- Mỗi đối tượng đo đã được xây dựng một đường chuẩn. Đường chuẩn này có thể được cập nhật cho phù hợp với công nghệ sản xuất xi măng tại cơ sở sử dụng.
3. Xây dựng được các quy trình, tạo lập được các sản phẩm của đề tài:
- Quy trình phân tích;
- Quy trình chế tạo mẫu chuẩn;
- Quy trình tạo mẫu đo;
- Số liệu đo thực nghiệm;
- Tài liệu kỹ thuật;
- Hướng dẫn sử dụng thiết bị.
Thiết bị phân tích nhanh đã được chế tạo nhưng đây là phiên bản đầu tiên nên không thể tránh khỏi một số hạn chế. Hình thức - mẫu mã chưa thật đẹp, việc thiết kế chế tạo các phần cơ khí và điện tử vẫn chưa thực sự tối ưu, vận hành thiết bị vẫn còn những thao tác chưa hợp lý và đặc biệt chưa thể coi đây là một thiết bị hoàn chỉnh do thiếu một số thiết bị phụ trợ đi kèm như máy hút chân không, máy ép viên, máy nghiền chuyên dụng. Thiết bị phân tích nhanh đã thành công trong việc phân tích 4 thành phần ôxít CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 phục vụ quá trình điều khiển công nghệ sản xuất xi măng. Thiết bị này, nếu tiếp tục được quan tâm và đầu tư thêm kinh phí, nó còn có thể nhận dạng và phân tích được thêm các ôxít của các nguyên tố như Mg, S, P, K và một số nguyên tố khác.
Thiết bị này cũng có thể được phát triển để phân tích hàm lượng nguyên tố hoặc ôxít của nó trong các lĩnh vực khác như khai khoáng, luyện kim, hóa dầu và môi trường,…q

TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1] Báo cáo tổng hợp kết quả Đề tài cấp Nhà nước - Bộ Công thương năm 2013, mã số 05/HĐ-ĐT 2010/ĐVPX “Xây dựng các quy trình phân tích và chế tạo thiết bị phân tích nhanh thành phần hóa để điều khiển các quá trình công nghệ trong sản xuất xi măng”.
[2] “Nghiên cứu chế tạo thiết bị phân tích nhanh 4 thành phần chính CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 trong bột liệu xi măng”, Tuyển tập báo cáo khoa học Hội nghị toàn quốc lần thứ VI Khoa học và công nghệ hạt nhân – 2007;
[3] Báo cáo kết quả Đề tài cấp bộ - Bộ Xây dựng năm 2004, mã số RDN 03-04 “Nghiên cứu chế tạo thiết bị phân tích nhanh 4 ô xít chính CaO, Fe2O3, SiO2 và Al2O3 trong bột liệu xi măng”, Bộ Xây dựng - 2006.
[4] “Nghiên cứu chế tạo phổ kế huỳnh quang tia X sử dụng đèn phát tia X làm nguồn kích thích mẫu và ứng dụng”, Lê Quang Huy, luận án tiến sỹ khoa học vật liệu, Hà Nội 2004.

[5] UCHIDA K., TOMINAGA H. and IMAMURA H., (1996). Light elements silmutaneous analyser by the X-ray emission method using alpha- and X-ray sources, for cement  raw mix control. “Radioisotope Instruments in industry and geophysics, IAEA, Vienna, 1, 113-126.
[6] William H.Press, Saul A. Teukolsky, William T. Vellerling, Brain P. Flannery, Numnerical recipes in frotran , The Art of Scientific Computing, Second Edition, Cambridge University press in 2000, page 678-683,
[7] Paul Horowitz, Winfield Hill (1989), The ART of electronics, Cambridge University, United States of America.
[8]  Glenn F.Knoll. Radiation detection and measurement.
[9] The Jordan valley, EDGE an XRF technical bulletin from Jordan Valley, www.jordanvalley-apd.com
[10]  www.amptek.com/drift.html/  Opreating manual XR-100SDD XRAY detector system
[11]  www.oxford.instrument.us
[12]  www.chem.utoronto.ca/coursenotes/analsci/StatsTutorial/LimDetect.html/

TS. Nguyễn Thanh Tùy, CN. Khuông Thanh Tuấn, CN. Vũ Trung Tân, ThS. Võ Thị Anh
Viện Khoa học và Kỹ thuật hạt nhân - 179 Hoàng Quốc Việt, Cầu Giấy, Hà Nội;
Liên hệ: Địa chỉ email này đã được bảo vệ từ spam bots, bạn cần kích hoạt Javascript để xem nó. / ; di động: 0913.223.552

Số 157 (3/2014)♦Tạp chí tự động hóa ngày nay


Tin mới hơn:
Tin cũ hơn:

 

Tìm kiếm

Quảng cáo&Liên kết




 



 

 

Mới cập nhật